Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongre F r R ntgenoptik Und Mikroanalyse / Ve Congr s International / Najlacnejšie knihy
Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongre  F r R ntgenoptik Und Mikroanalyse / Ve Congr s International

Kod: 07168958

Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongre F r R ntgenoptik Und Mikroanalyse / Ve Congr s International

Autor Gottfried Möllenstedt

The Fifth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis was organized by the Institute of Applied Physics at Tübingen University in Western Germany from September 9th through 14th, 1968. Since 1956, when the First Confe ... więcej

63.99


Dostępna u dostawcy w małych ilościach
Wysyłamy za 10 - 14 dni

Potrzebujesz więcej egzemplarzy?Jeżeli jesteś zainteresowany zakupem większej ilości egzemplarzy, skontaktuj się z nami, aby sprawdzić ich dostępność.


Dodaj do schowka

Zobacz książki o podobnej tematyce

Podaruj tę książkę jeszcze dziś
  1. Zamów książkę i wybierz "Wyślij jako prezent".
  2. Natychmiast wyślemy Ci bon podarunkowy, który możesz przekazać adresatowi prezentu.
  3. Książka zostanie wysłana do adresata, a Ty o nic nie musisz się martwić.

Dowiedz się więcej

Więcej informacji o Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongre F r R ntgenoptik Und Mikroanalyse / Ve Congr s International

Za ten zakup dostaniesz 160 punkty

Opis

The Fifth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis was organized by the Institute of Applied Physics at Tübingen University in Western Germany from September 9th through 14th, 1968. Since 1956, when the First Conference was arranged in Cambridge, England by one of the pioneers in this field, V. E. CossLETT, the experts in the fields of X-Ray Optics and Microanalysis have met every third year to exchange their scientific experiences. Later meetings were held at Uppsala, Sweden in 1959, at Stanforcl. California in 1962, and at Orsay, Francein 1965. The participants in the 1961-l Conferenct came from the following countries: Germany 140, France 60, Great Britain 55, USA 20. Netherlands 16, Switzerland 12, Austria 9, Sweden 7, Belgium 6, Japan 5, Italy 4, two each from Israel, Yugoslavia, Canada, Norway, Hungary and one each from Argentine. Poland, South Africa. As at the latest congress in Paris the following central topics were treated: Gentral problems of X-ray optics, physical bases of electron beam microanalysis. quantitative problems of X-ray microanalysis, instrumentation, microdiffraction, applications to metal lurgy, mineralogy, and biology. An exhibition showing some of the most modern instruments formed an important part of the conference. The Springer-Verlag, Heidelberg, deserves thanks for tht car·eful and speedy work they have performed in printing these conference proceedings. We are further indebted to all contributors of this volume for their kind cooperation.

Szczegóły książki

63.99

Ulubione w innej kategorii



Osobní odběr Bratislava a 2642 dalších

Copyright ©2008-24 najlacnejsie-knihy.sk Wszelkie prawa zastrzeżonePrywatnieCookies


Konto: Logowanie
Všetky knihy sveta na jednom mieste. Navyše za skvelé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Nakupte za 59,99 € a
máte doručení zdarma.

Twoja lokalizacja: