Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems / Najlacnejšie knihy
Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

Kod: 18912854

Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

Autor Chattopadhyay, Santanu (Department of Electronics and Electrical Communication EngineeringIndian Institute of Technology Kharagpur, West Bengal, India

The book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level. The book will be suitable for the researchers working on p ... więcej

80.80 €


Dostępna u dostawcy
Wysyłamy za 15 - 20 dni
Dodaj do schowka

Zobacz książki o podobnej tematyce

Podaruj tę książkę jeszcze dziś
  1. Zamów książkę i wybierz "Wyślij jako prezent".
  2. Natychmiast wyślemy Ci bon podarunkowy, który możesz przekazać adresatowi prezentu.
  3. Książka zostanie wysłana do adresata, a Ty o nic nie musisz się martwić.

Dowiedz się więcej

Więcej informacji o Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

Za ten zakup dostaniesz 202 punkty

Opis

The book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level. The book will be suitable for the researchers working on power- and thermal-aware design and test of digital VLSI chips--

Szczegóły książki

Kategoria Książki po angielsku Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

80.80 €

Ulubione w innej kategorii

O nas



Przewodnik
Na skróty
Według języka
Płatność
Dostawa 2.99 €

Osobní odběr Bratislava a 2642 dalších

Slovensko
България Hrvatska România Magyarország Polska Česko

Copyright ©2008-24 najlacnejsie-knihy.sk Wszelkie prawa zastrzeżonePrywatnieCookies

Konto: Logowanie
Všetky knihy sveta na jednom mieste. Navyše za skvelé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Nakupte za 59,99 € a
máte doručení zdarma.

Twoja lokalizacja: