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Opis

Este trabajo consiste en el diseńo de un sistema optomecatrónico para medir el índice de refracción de compuestos crómicos depositados en portaobjetos. El prototipo utiliza la ley de Snell, que relaciona dos medios con índice de refracción diferentes, ángulos de incidencia y la trayectoria refractada de un haz láser. El diseńo optomecatrónico utiliza un sistema de control con interfaz gráfica de usuario, así como visión por computadora. El prototipo consta de fuente de luz láser con longitud de onda de 630 nm, un motor paso a paso y su respectivos drivers de control, un microcontrolador PIC18F4550 como tarjeta de comunicación entre el computador y la electrónica de control por USB y una cámara web como componentes principales que participan en este sistema optomecatrónico. Sin duda el diseńo de un dispositivo final requiere de diferentes áreas de conocimiento, donde cada área aporta una melodía, que en conjunto llegan a formar una verdadera obra de arte.

Szczegóły książki

• Pełny tytuł: Sistema optomecatrónico para medir el índice de refracción
• Autor: Luis Alberto García Flores, Jorge Luis Camas Anzueto
• Język: Hiszpański
• Oprawa: Miękka
• Liczba stron: 72
• EAN: 9783841769152
• ID: 14125936
• Wydawca: Editorial Académica Espa?ola
• Waga: 124 g
• Wymiary: 220 × 150 × 4 mm
• Rok wydania: 2016

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