Zobacz książki o podobnej tematyce

Więcej informacji o Semiconductor Memories - Technology, Testing and Reliability

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 610 punkty

Opis

Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including. * Memory cell structures and fabrication technologies. * Application-specific memories and architectures. * Memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade-offs. * Space environment, radiation hardening process and design techniques, and radiation testing. * Memory stacks and multichip modules for gigabyte storage.

Szczegóły książki

Kategoria Książki po angielsku Computing & information technology Computer hardware Storage media & peripherals

• Pełny tytuł: Semiconductor Memories - Technology, Testing and Reliability
• Autor: Ashok K. Sharma, Rochit Rajsuman
• Język: Angielski
• Oprawa: Twarda
• Liczba stron: 480
• EAN: 9780780310001
• ISBN: 0780310004
• ID: 04919500
• Wydawca: I.E.E.E.Press
• Waga: 1066 g
• Wymiary: 261 × 178 × 31 mm
• Data wydania: 24. September 2002

---

---

---