Zobacz książki o podobnej tematyce

Więcej informacji o Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 304 punkty

Opis

This book lays the groundwork for further use of Electron Spin Echo Envelop Modulation (ESEEM) and opens the possibility of highly precise chemical fingerprinting. It reveals an astonishingly long memory of spin coherence in semiconductor particles.

Szczegóły książki

Kategoria Książki po angielsku Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Pełny tytuł: Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance
• Autor: Kipp van Schooten
• Język: Angielski
• Oprawa: Miękka
• Liczba stron: 90
• EAN: 9783319033280
• ISBN: 331903328X
• ID: 02823763
• Wydawca: Springer International Publishing AG
• Waga: 1708 g
• Wymiary: 6 × 155 × 7 mm
• Data wydania: 14. April 2014

Ulubione w innej kategorii

---

---

---