Zobacz książki o podobnej tematyce

Więcej informacji o On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 309 punkty

Opis

The increasing demand for more content, services, and security drives the development of high-speed wireless technologies, optical communication, automotive radar, imaging and sensing systems and many other mm-wave and THz applications. S-parameter measure

Szczegóły książki

Kategoria Książki po angielsku Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Pełny tytuł: On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
• Autor: Andrej Rumiantsev
• Język: Angielski
• Oprawa: Twarda
• Liczba stron: 250
• EAN: 9788770221122
• ISBN: 877022112X
• ID: 22491651
• Wydawca: River Publishers
• Waga: 566 g
• Wymiary: 234 × 156 × 20 mm
• Data wydania: 30. May 2019

Ulubione w innej kategorii

---

---

---