Zobacz książki o podobnej tematyce

Więcej informacji o Mismatch Theory And Measurement For Semiconductors

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 88 punkty

Opis

THE MOST ADVANCED SEMICONDUCTOR MISMATCH TECHNIQUES These mismatch methods are the most advanced techniques in the Semiconductor field. All the practical matters of simulation, measurement, and mismatch model parameter generation (using random field th

Szczegóły książki

• Pełny tytuł: Mismatch Theory And Measurement For Semiconductors
• Autor: Mike Peralta
• Język: Angielski
• Oprawa: Miękka
• Liczba stron: 288
• EAN: 9781492124955
• ISBN: 1492124958
• ID: 17170990
• Wydawca: Createspace Independent Publishing Platform
• Waga: 670 g
• Wymiary: 280 × 216 × 15 mm
• Data wydania: 09. August 2013

Ulubione w innej kategorii

---

---

---