Material Characterization Improvement in High Temperature Rectangular Waveguide Measurements / Najlacnejšie knihy
Material Characterization Improvement in High Temperature Rectangular Waveguide Measurements

Kod: 08142542

Material Characterization Improvement in High Temperature Rectangular Waveguide Measurements

Autor Eric A Buschelman

This research presents a method using modal analysis by which electromagnetic characterization of materials in a partially filled rectangular waveguide, having a single top air gap, can be accurately performed. Thermal expansion o ... więcej

57.07

Zwykle: 58.20 €

Oszczędzasz 1.14 €


Dostępna u dostawcy
Wysyłamy za 15 - 20 dni
Dodaj do schowka

Zobacz książki o podobnej tematyce

Podaruj tę książkę jeszcze dziś
  1. Zamów książkę i wybierz "Wyślij jako prezent".
  2. Natychmiast wyślemy Ci bon podarunkowy, który możesz przekazać adresatowi prezentu.
  3. Książka zostanie wysłana do adresata, a Ty o nic nie musisz się martwić.

Dowiedz się więcej

Więcej informacji o Material Characterization Improvement in High Temperature Rectangular Waveguide Measurements

Za ten zakup dostaniesz 143 punkty

Opis

This research presents a method using modal analysis by which electromagnetic characterization of materials in a partially filled rectangular waveguide, having a single top air gap, can be accurately performed. Thermal expansion of waveguides commonly occurs during high-temperature measurements, resulting in air gaps between the sample and waveguide walls. Higher order modes are excited by the discontinuous geometry, which are not accounted for in most closed form extraction algorithms.

Szczegóły książki

Kategoria Książki po angielsku Society & social sciences Education

57.07

Ulubione w innej kategorii



Osobní odběr Bratislava a 2642 dalších

Copyright ©2008-24 najlacnejsie-knihy.sk Wszelkie prawa zastrzeżonePrywatnieCookies


Konto: Logowanie
Všetky knihy sveta na jednom mieste. Navyše za skvelé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Nakupte za 59,99 € a
máte doručení zdarma.

Twoja lokalizacja: