Zobacz książki o podobnej tematyce

Więcej informacji o CTL for Test Information of Digital ICs

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 304 punkty

Opis

From the reviews: "[ ] a welcome addition to the literature. [ ] This book promises to make a valuable contribution to the education of graduate students in electrical and computer engineering, and a very useful addition to the library of the maturer investigator in SoC designs or related fields." Microelectronics Reliability§

Szczegóły książki

Kategoria Książki po angielsku Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Pełny tytuł: CTL for Test Information of Digital ICs
• Autor: Rohit Kapur
• Język: Angielski
• Oprawa: Miękka
• Liczba stron: 173
• EAN: 9781475778007
• ISBN: 1475778007
• ID: 02181748
• Wydawca: Springer-Verlag New York Inc.
• Waga: 296 g
• Wymiary: 10 × 155 × 11 mm
• Data wydania: 26. April 2013

Ulubione w innej kategorii

---

---

---