Zobacz książki o podobnej tematyce

Więcej informacji o Charged Semiconductor Defects

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 467 punkty

Opis

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.

Szczegóły książki

Kategoria Książki po angielsku Mathematics & science Chemistry Analytical chemistry

• Pełny tytuł: Charged Semiconductor Defects
• Podtytuł: Structure, Thermodynamics and Diffusion
• Autor: Edmund G. Seebauer, Meredith C. Kratzer
• Język: Angielski
• Oprawa: Miękka
• Liczba stron: 298
• EAN: 9781849968201
• ISBN: 1849968209
• ID: 01434720
• Wydawca: Springer London Ltd
• Waga: 474 g
• Wymiary: 235 × 155 × 17 mm
• Data wydania: 22. October 2010

Ulubione w innej kategorii

---

---

---