Zobacz książki o podobnej tematyce

Więcej informacji o Advances in X-Ray Analysis

• Dane szczegółowe
• Opis
• Ulubione w innej kategorii

Za ten zakup dostaniesz 279 punkty

Opis

The proceedings of the combined First Pacific-International Congress on X-Ray Analytical Methods (PICXAM) and Fortieth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held in Hilo and Honolulu Hawaii, August 1991, comprise reports on the latest develo

Szczegóły książki

• Pełny tytuł: Advances in X-Ray Analysis
• Podtytuł: Volume 35B
• Autor: C.S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins
• Język: Angielski
• Oprawa: Twarda
• Liczba stron: 640
• EAN: 9780306442490
• ID: 01377984
• Wydawca: Springer, Berlin
• Waga: 2760 g
• Wymiary: 250 × 175 × 41 mm
• Data wydania: 04. December 2012

Ulubione w innej kategorii

---

---

---