Mohlo by sa vám tiež páčiť

Informovať o naskladnení knihy

Viac informácií o knihe Electron Beam Ion Sources and Traps and Their Applications

• Parametre knihy
• Anotácia kniha
• Obľúbené z iného súdka

Nákupom získate 490 bodov

Anotácia knihy

This symposium is a triennial event, held in different places around the world (next symposium will be in Japan, in 2003). The topic of the symposium is the development of electron beam ion sources and traps and their applications, so far in basic science and research, but with prospects for extending them into other areas. Potential readers would have an interest in atomic physics and applications to accelerator physics.

Parametre knihy

• Celý názov: Electron Beam Ion Sources and Traps and Their Applications
• Podnázov: 8th International Symposium EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000
• Autor: Krsto Prelec
• Jazyk: Angličtina
• Väzba: Pevná
• Počet strán: 304
• EAN: 9780735400115
• ID: 01390729
• Nakladateľ: Springer, Berlin
• Hmotnosť: 620 g
• Rozmery: 247 × 169 × 22 mm
• Rok vydania: 2001

Obľúbené z iného súdka

---

---

---