VLSI Design and Test / Najlacnejšie knihy
VLSI Design and Test

Kod: 24309227

VLSI Design and Test

Autor Anirban Sengupta, Sudeb Dasgupta, Virendra Singh

This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissio ... więcej

127.05


Dostępna u dostawcy w małych ilościach
Wysyłamy za 10 - 15 dni

Potrzebujesz więcej egzemplarzy?Jeżeli jesteś zainteresowany zakupem większej ilości egzemplarzy, skontaktuj się z nami, aby sprawdzić ich dostępność.


Dodaj do schowka

Zobacz książki o podobnej tematyce

Podaruj tę książkę jeszcze dziś
  1. Zamów książkę i wybierz "Wyślij jako prezent".
  2. Natychmiast wyślemy Ci bon podarunkowy, który możesz przekazać adresatowi prezentu.
  3. Książka zostanie wysłana do adresata, a Ty o nic nie musisz się martwić.

Dowiedz się więcej

Więcej informacji o VLSI Design and Test

Za ten zakup dostaniesz 316 punkty

Opis

This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019. The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The p

Szczegóły książki

127.05

Ulubione w innej kategorii



Osobný odber Bratislava a 2642 dalších

Copyright ©2008-24 najlacnejsie-knihy.sk Všetky práva vyhradenéSúkromieCookies


Môj účet: Prihlásiť sa
Všetky knihy sveta na jednom mieste. Navyše za skvelé ceny.

Nákupný košík ( prázdny )

Vyzdvihnutie v Zásielkovni
zadarmo nad 59,99 €.

Nachádzate sa: