Kod: 23164702
The proceedings of the 21st IEEE VLSI test symposium (VTS (2003) describing innovations in the testing of integrated circuits and systems.
201.97 €
Zwykle: 211.93 €
Oszczędzasz 9.96 €
Dostępność:
50 % szansaOtrzymaliśmy informację, że książka może być ponownie dostępna. Na podstawie państwa zamówienia, postaramy się książkę sprowadzić w terminie do 6 tygodni. Gwarancja pełnego zwrotu pieniędzy, jeśli książka nie zostanie zabezpieczona.Wpisz swój adres e-mail, aby otrzymać od nas powiadomienie,
gdy książka będzie dostępna. Proste, prawda?
Za ten zakup dostaniesz 506 punkty
The proceedings of the 21st IEEE VLSI test symposium (VTS (2003) describing innovations in the testing of integrated circuits and systems.
201.97 €
Collection points Bratislava a 2642 dalších
Copyright ©2008-24 najlacnejsie-knihy.sk All rights reservedPrivacyCookies
Shopping cart ( Empty )
You are here: